009理學(xué)院自命題科目大綱
《601數(shù)學(xué)分析》
參考書(shū)目：
[1] 華東師范大學(xué)數(shù)學(xué)系編，《數(shù)學(xué)分析》（第四版）（上冊(cè)、下冊(cè)），北京：高等教育出版社，2010。
一、考試目的與要求
測(cè)試考生掌握極限理論、一元函數(shù)微積分學(xué)、無(wú)窮級(jí)數(shù)與多元函數(shù)微積分學(xué)等方面的系統(tǒng)知識(shí)。重點(diǎn)考察學(xué)生對(duì)所學(xué)的基本概念、理論、方法的應(yīng)用能力，包括考察學(xué)生綜合運(yùn)用有關(guān)概念、定理、基本方法和原理進(jìn)行計(jì)算的能力和證明有關(guān)結(jié)論的能力。
二、試卷結(jié)構(gòu)（滿分150分）
內(nèi)容比例：
極限理論，一元函數(shù)微積分學(xué)，約75分；
級(jí)數(shù)和多元函數(shù)微分學(xué)、積分學(xué)，約75分。
題型比例：
極限理論，一元函數(shù)微積分學(xué)：
計(jì)算題和解答題 約40分
證明題 約35分
級(jí)數(shù)與多元函數(shù)部分：
計(jì)算題和解答題 約55分
證明題 約20分
三、考試內(nèi)容與要求
（一） 考試內(nèi)容
數(shù)列極限和函數(shù)極限的斂散性的相關(guān)問(wèn)題，一元函數(shù)的連續(xù)性、一致連續(xù)性、可微性、實(shí)數(shù)集完備性基本定理、一元函數(shù)的各種積分問(wèn)題。
考試要求：
1、理解數(shù)列和函數(shù)極限的定義；
2、掌握極限理論的各種結(jié)論和方法；
3、掌握一元函數(shù)連續(xù)和可微性及可積性的判別方法；
4、掌握微分中值定理以及導(dǎo)數(shù)的應(yīng)用方法；
5、掌握實(shí)數(shù)集完備性基本定理的運(yùn)用技巧；
6、熟練計(jì)算一元函數(shù)的各種積分及積分的應(yīng)用；
7、綜合運(yùn)用定理、基本方法和原理證明有關(guān)結(jié)論的能力。
（二）級(jí)數(shù)和多元函數(shù)微分學(xué)、積分學(xué)
考試內(nèi)容：
數(shù)項(xiàng)級(jí)數(shù)的斂散性、函數(shù)列的一致收斂性、冪級(jí)數(shù)有關(guān)問(wèn)題、多元函數(shù)的連續(xù)性及可微性、多元函數(shù)的偏導(dǎo)數(shù)及各種積分問(wèn)題。
考試要求：
1、掌握級(jí)數(shù)斂散性判別法；
2、掌握函數(shù)列一致收斂的判別法；
3、掌握冪級(jí)數(shù)的和函數(shù)以及函數(shù)展開(kāi)成冪級(jí)數(shù)的相關(guān)問(wèn)題；
4、掌握多元函數(shù)連續(xù)性及可微性判別方法；
5、熟練計(jì)算多元函數(shù)的各種積分；
6、熟練計(jì)算多元函數(shù)（包括隱函數(shù)）的偏導(dǎo)數(shù)，并掌握偏導(dǎo)數(shù)的幾何應(yīng)用；
7、綜合運(yùn)用定理、基本方法和原理證明有關(guān)結(jié)論的能力。
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601數(shù)學(xué)分析 | 818高等代數(shù) | |
| 612普通物理(含電磁學(xué)和光學(xué)) | 819量子力學(xué) | ||
| 820光學(xué) | |||
| 821材料科學(xué)與工程基礎(chǔ) | |||
| 822半導(dǎo)體物理 | |||
| 823物理基礎(chǔ)(包括光學(xué)和電磁學(xué)) |
《601數(shù)學(xué)分析》
參考書(shū)目：
[1] 華東師范大學(xué)數(shù)學(xué)系編，《數(shù)學(xué)分析》（第四版）（上冊(cè)、下冊(cè)），北京：高等教育出版社，2010。
一、考試目的與要求
測(cè)試考生掌握極限理論、一元函數(shù)微積分學(xué)、無(wú)窮級(jí)數(shù)與多元函數(shù)微積分學(xué)等方面的系統(tǒng)知識(shí)。重點(diǎn)考察學(xué)生對(duì)所學(xué)的基本概念、理論、方法的應(yīng)用能力，包括考察學(xué)生綜合運(yùn)用有關(guān)概念、定理、基本方法和原理進(jìn)行計(jì)算的能力和證明有關(guān)結(jié)論的能力。
二、試卷結(jié)構(gòu)（滿分150分）
內(nèi)容比例：
極限理論，一元函數(shù)微積分學(xué)，約75分；
級(jí)數(shù)和多元函數(shù)微分學(xué)、積分學(xué)，約75分。
題型比例：
極限理論，一元函數(shù)微積分學(xué)：
計(jì)算題和解答題 約40分
證明題 約35分
級(jí)數(shù)與多元函數(shù)部分：
計(jì)算題和解答題 約55分
證明題 約20分
三、考試內(nèi)容與要求
（一） 考試內(nèi)容
數(shù)列極限和函數(shù)極限的斂散性的相關(guān)問(wèn)題，一元函數(shù)的連續(xù)性、一致連續(xù)性、可微性、實(shí)數(shù)集完備性基本定理、一元函數(shù)的各種積分問(wèn)題。
考試要求：
1、理解數(shù)列和函數(shù)極限的定義；
2、掌握極限理論的各種結(jié)論和方法；
3、掌握一元函數(shù)連續(xù)和可微性及可積性的判別方法；
4、掌握微分中值定理以及導(dǎo)數(shù)的應(yīng)用方法；
5、掌握實(shí)數(shù)集完備性基本定理的運(yùn)用技巧；
6、熟練計(jì)算一元函數(shù)的各種積分及積分的應(yīng)用；
7、綜合運(yùn)用定理、基本方法和原理證明有關(guān)結(jié)論的能力。
（二）級(jí)數(shù)和多元函數(shù)微分學(xué)、積分學(xué)
考試內(nèi)容：
數(shù)項(xiàng)級(jí)數(shù)的斂散性、函數(shù)列的一致收斂性、冪級(jí)數(shù)有關(guān)問(wèn)題、多元函數(shù)的連續(xù)性及可微性、多元函數(shù)的偏導(dǎo)數(shù)及各種積分問(wèn)題。
考試要求：
1、掌握級(jí)數(shù)斂散性判別法；
2、掌握函數(shù)列一致收斂的判別法；
3、掌握冪級(jí)數(shù)的和函數(shù)以及函數(shù)展開(kāi)成冪級(jí)數(shù)的相關(guān)問(wèn)題；
4、掌握多元函數(shù)連續(xù)性及可微性判別方法；
5、熟練計(jì)算多元函數(shù)的各種積分；
6、熟練計(jì)算多元函數(shù)（包括隱函數(shù)）的偏導(dǎo)數(shù)，并掌握偏導(dǎo)數(shù)的幾何應(yīng)用；
7、綜合運(yùn)用定理、基本方法和原理證明有關(guān)結(jié)論的能力。
《612普通物理(含電磁學(xué)和光學(xué))》
參考文獻(xiàn)：[1] 《大學(xué)物理學(xué)》下冊(cè)（第四版），趙近芳，北京郵電大學(xué)出版社，2014
[2] 《普通物理學(xué)》第二冊(cè)、第三冊(cè)（第五版），程守洙，高等教育出版社，1998
一、 考試目的與要求
測(cè)試考生掌握物理學(xué)基本原理和基本方法，以及分析和解決問(wèn)題的能力。考生應(yīng)能夠運(yùn)用基本原理和方法，初步具備解決電磁學(xué)和光學(xué)中的物理問(wèn)題的能力。
二、 試卷結(jié)構(gòu)（滿分150分）
內(nèi)容比例：
電磁學(xué)部分 約75分
光學(xué)部分 約75分
題型比例：
1．單項(xiàng)選擇題或填空題 約20分
2．計(jì)算題 約100分
3．分析論證題 約30分
三、考試內(nèi)容與要求
（一）電磁學(xué)部分
1. 了解電場(chǎng) 電場(chǎng)強(qiáng)度 場(chǎng)強(qiáng)疊加
2. 掌握電通量 高斯定理及應(yīng)用
3. 掌握電場(chǎng)力的功 電勢(shì)能 電勢(shì)的計(jì)算
4. 掌握靜電場(chǎng)中的導(dǎo)體及電介質(zhì)
5. 掌握電容 電容器 電場(chǎng)的能量
6. 掌握畢奧—沙伐爾定律
7. 熟練應(yīng)用安培環(huán)路定理及應(yīng)用磁感應(yīng)強(qiáng)度的計(jì)算
8. 掌握磁場(chǎng)對(duì)電流、運(yùn)動(dòng)電荷的作用
9. 電磁感應(yīng)現(xiàn)象 動(dòng)生電動(dòng)勢(shì)
10. 感生電動(dòng)勢(shì) 渦旋電場(chǎng)
11. 自感與互感電動(dòng)勢(shì) 磁場(chǎng)能量
（二）光學(xué)部分
1. 光掌握波 光程 相干光 雙縫干涉
2. 掌握薄膜干涉──等傾干涉
3. 掌握薄膜干涉──等厚干涉 邁克爾遜干涉儀
4. 掌握單縫的夫瑯和費(fèi)衍射
5. 了解圓孔的夫瑯和費(fèi)衍射 光學(xué)儀器的分辨本領(lǐng)
6. 掌握光柵衍射 X射線衍射
7. 掌握自然光和偏振光 起偏和檢偏 馬呂斯定律
8. 掌握反射和折射時(shí)光的偏振 光的雙折射
9. 掌握光電效應(yīng) 愛(ài)因斯坦光子理論
《818高等代數(shù)》
參考書(shū)目：[1] 《高等代數(shù)》，北京大學(xué)數(shù)學(xué)系幾何與代數(shù)教研室代數(shù)小組，人民教育出版社，1978
[2] 《高等代數(shù)》，劉昌堃，葉世源，葉家琛，陳承東，同濟(jì)大學(xué)出版社，1995
[3] 《高等代數(shù)與解析幾何》，同濟(jì)大學(xué)應(yīng)用數(shù)學(xué)系，高等教育出版社，2005
一、考試目的與要求
測(cè)試考生對(duì)線性代數(shù)主要內(nèi)容包括多項(xiàng)式理論、行列式、矩陣、線性方程組、線性空間與線性變換、二次型的理解及掌握程度；對(duì)知識(shí)的運(yùn)用能力；同時(shí)考察學(xué)生對(duì)相關(guān)拓展內(nèi)容如內(nèi)積空間、
矩陣等的了解情況。要求考生準(zhǔn)確記憶基本概念，理解基本理論，掌握基本計(jì)算，并能妥善運(yùn)用到綜合題目的處理中。此外，對(duì)于內(nèi)積空間、
矩陣的內(nèi)容，考生也要有所了解。二、試卷結(jié)構(gòu)（滿分150分）
內(nèi)容比例：
多項(xiàng)式理論 約25分
行列式 約20分
矩陣運(yùn)算 約25分
線性方程組 約15分
線性空間與線性變換 約40分
二次型 約15分
擴(kuò)展部分 約10分
三、考試內(nèi)容與要求
（一）多項(xiàng)式理論
考試內(nèi)容：
多項(xiàng)式的四則運(yùn)算；多項(xiàng)式的整除、帶余除法；最高公因式；因式分解；有理數(shù)域上多項(xiàng)式的根；重因式。
考試要求：
1、了解基本概念：最低公倍式、最大公因式、重因式、本原多項(xiàng)式；
2、理解基本理論： 因式分解理論、代數(shù)基本定理、本原多項(xiàng)式分解定理、公因式的性質(zhì)；
3、掌握基本計(jì)算：帶余除法、輾轉(zhuǎn)相除法、重因式判定方法、艾森斯坦因判別法、整系數(shù)多項(xiàng)式的有理根判別法；
4、綜合運(yùn)用以上內(nèi)容進(jìn)行合理地分析、證明、判斷。
（二）行列式
考試內(nèi)容：
三、四階數(shù)字行列式的計(jì)算；特殊任意階行列式計(jì)算；范德蒙行列式；與行列式性質(zhì)相關(guān)的證明；克拉默法則。
考試要求：
1、了解行列式不同的定義方式、行列式降階運(yùn)算以及拉普拉斯定理；
2、理解行列式性質(zhì)、代數(shù)余子式概念；
3、掌握行列式的計(jì)算、行列式性質(zhì)的證明、范德蒙行列式形式及應(yīng)用、克拉默法則；
4、綜合運(yùn)用矩陣、線性變換等內(nèi)容處理行列式相關(guān)計(jì)算。
（三）矩陣運(yùn)算
考試內(nèi)容：
矩陣的加法、數(shù)乘、乘法運(yùn)算；特殊矩陣的冪運(yùn)算；矩陣多項(xiàng)式計(jì)算；求逆運(yùn)算；初等矩陣；矩陣的等價(jià)標(biāo)準(zhǔn)型；矩陣的秩、分塊矩陣；矩陣方程。
考試要求：
1、了解矩陣各運(yùn)算的定義和條件；
2、理解矩陣乘法和初等矩陣的關(guān)系、伴隨矩陣和逆矩陣的關(guān)系、分塊矩陣的基本思想、矩陣的秩的概念以及矩陣等價(jià)標(biāo)準(zhǔn)型；
3、掌握矩陣的乘法、求逆方法、克拉默法則的矩陣描述、伴隨矩陣的性質(zhì)、分塊矩陣計(jì)算技巧、矩陣求秩、矩陣等價(jià)標(biāo)準(zhǔn)型的計(jì)算；
4、能夠綜合處理行列式、矩陣、方程組的解的判定等問(wèn)題。
（四）線性方程組理論
考試內(nèi)容：
高斯消元法；齊次線性方程組基礎(chǔ)解系和通解；非齊次線性方程組通解；非齊次線性方程組與對(duì)應(yīng)齊次線性方程組解的關(guān)系。
1、了解線性方程組的基本概念：線性方程組定義；線性方程組通解和特解；相容性。
2、理解齊次線性方程組基礎(chǔ)解系概念、理解非齊次線性方程組與對(duì)應(yīng)齊次線性方程組解的關(guān)系、矩陣的秩與線性方程組解的關(guān)系。
3、掌握高斯消元法求解線性方程組的方法、利用矩陣的秩判斷線性方程組解屬性的方法。
（五）線性空間與線性變換
考試內(nèi)容：
線性空間的概念；線性運(yùn)算性質(zhì)；向量的線性相關(guān)性；向量組的極大線性無(wú)關(guān)組、秩；線性空間的基與維數(shù)；向量在某基下坐標(biāo)；過(guò)渡矩陣和坐標(biāo)變換公式；子空間的概念和判定；子空間的維數(shù)公式；子空間的直和；線性空間的同構(gòu)；線性映射和線性變換；線性變換的基下矩陣；相似矩陣；特征值與特征向量；矩陣對(duì)角化條件。
考試要求：
1、了解線性空間概念、線性運(yùn)算性質(zhì)、向量組的極大線性無(wú)關(guān)組和秩的概念、線性空間基與維數(shù)的概念、子空間的概念、同構(gòu)的概念、基下矩陣概念；
2、理解向量組的線性相關(guān)性概念、向量組極大無(wú)關(guān)組與線性空間的基的關(guān)系、向量組的秩與線性空間維數(shù)的關(guān)系、特征值與特征向量的關(guān)系、矩陣對(duì)角化條件、子空間直和概念、矩陣相似的概念；
3、掌握向量組線性相關(guān)性的討論、向量組的極大線性無(wú)關(guān)組和秩的計(jì)算、過(guò)渡矩陣和坐標(biāo)變換的計(jì)算、利用子空間維數(shù)公式計(jì)算子空間維數(shù)、向量組是否構(gòu)成子空間的判定、直和的判定、基下矩陣的計(jì)算、矩陣特征值和特征向量的計(jì)算、矩陣的對(duì)角化、同一線性變換的不同基下矩陣的轉(zhuǎn)換；
4、能夠綜合運(yùn)用行列式、矩陣、方程組、向量組、特征值相關(guān)理論進(jìn)行合理地分析、判斷、證明。
（六）二次型理論
考試內(nèi)容：
向量?jī)?nèi)積的概念；二次型定義及其矩陣表示；二次型的秩、慣性指數(shù)概念；正交矩陣；矩陣的合同；二次型的標(biāo)準(zhǔn)型及其計(jì)算方法；二次型的正定性。
考試要求：
1、了解內(nèi)積空間的概念、慣性定理、各類有定二次型概念。
2、理解二次型標(biāo)準(zhǔn)性概念、二次型秩的概念、二次型標(biāo)準(zhǔn)型的唯一性意義、矩陣的合同與相似以及等價(jià)的關(guān)系、正交矩陣概念。
3、掌握配方法化二次型為標(biāo)準(zhǔn)型、如何用正交變換化二次型為標(biāo)準(zhǔn)型、利用二次型矩陣的特征值判定其標(biāo)準(zhǔn)型性質(zhì)、正定矩陣和正定二次型的判定。
（七）擴(kuò)展部分
考試內(nèi)容：
不變因子、初等因子；若當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)型；正交變換；正規(guī)變換。
考試要求：
1、了解不變因子、初等因子；若當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)型；正交變換；正規(guī)變換等概念。
2、掌握若當(dāng)型計(jì)算、不變因子和初等因子關(guān)系及求法；理解第一類正交變換、鏡面反射變換；了解正規(guī)變換性質(zhì)。
《819量子力學(xué)》
參考文獻(xiàn)：[1] 《量子力學(xué)教程》（第二版），周世勛，高等教育出版社，2009
一、 考試目的與要求
測(cè)試考生對(duì)量子力學(xué)基本原理和應(yīng)用方法的掌握程度，以及對(duì)微觀物理問(wèn)題的抽象思維和邏輯推理能力。考生應(yīng)掌握微觀物理系統(tǒng)的基本概念、描述方法、邏輯體系和基本物理規(guī)律，理解量子力學(xué)的思想觀念和研究方法，并能夠運(yùn)用理論解決相應(yīng)的量子物理問(wèn)題。
二、 試卷結(jié)構(gòu)（滿分150分）
內(nèi)容比例：
運(yùn)動(dòng)方程 約30分
力學(xué)量算符與表象 約40分
微擾理論 約20分
全同粒子 約10分
軌道角動(dòng)量與自旋 約50分
題型比例：
1．概念題 約50分
2．計(jì)算題 約50分
3．綜合運(yùn)用題 約50分
三、考試內(nèi)容與要求
（一）量子力學(xué)的基本原理
考試內(nèi)容
量子力學(xué)5個(gè)基本原理的理解和運(yùn)用。
考試要求
1. 波函數(shù)的物理意義與特點(diǎn)；
2. Schrödinger方程的形式與求解；
3. 厄米算符性質(zhì)；
4. 力學(xué)量取值分析方法；
5. 全同性原理的內(nèi)涵。
（二）力學(xué)量算符與表象
考試內(nèi)容
力學(xué)量算符基本性質(zhì)；表象變換方法；算符矩陣計(jì)算。
考試要求
1. 算符運(yùn)算的基本原則與方法；
2. 矩陣本征值方程的求解；
3. 態(tài)與算符的表象變換。
（三）微擾理論
考試內(nèi)容
非簡(jiǎn)并與簡(jiǎn)并定態(tài)微擾理論。
考試要求
1. 非簡(jiǎn)并定態(tài)微擾理論的運(yùn)用方法；
2. 簡(jiǎn)并定態(tài)微擾計(jì)算的矩陣方法。
（四）軌道角動(dòng)量與自旋
考試內(nèi)容
軌道角動(dòng)量的算符形式、對(duì)易關(guān)系、本征態(tài)特點(diǎn)；自旋的定義、算符形式、計(jì)算方法。
考試要求
1. 熟練掌握軌道角動(dòng)量各方面性質(zhì)；
2. 熟練掌握自旋各方面性質(zhì)；
3. 運(yùn)用軌道角動(dòng)量和自旋性質(zhì)解決相關(guān)問(wèn)題。
《820光學(xué)》
參考書(shū)目：[1] 《光學(xué)》趙凱華、鐘錫華，北京大學(xué)出版社，2017年第二版
一、 考試目的與要求
掌握光學(xué)的基本概念、基本原理和基本公式。掌握求解光學(xué)問(wèn)題的基本方法，能夠準(zhǔn)確地熟練求解光學(xué)的基本問(wèn)題。能夠靈活運(yùn)用光學(xué)的基本概念、原理和方法分析和解決綜合性的光學(xué)問(wèn)題。
二、 試卷結(jié)構(gòu)（滿分150分）
內(nèi)容比例：
1．幾何光學(xué) 約30%
2．光的干涉 約20%
3．光的衍射 約20%
4．光的偏振 約20%
5．光的吸收、色散、散射；群速 約10%
題型比例：
1．問(wèn)答題或證明題 約40%
2．計(jì)算題 約60%
三、考試內(nèi)容與要求
（一）幾何光學(xué)
1. 了解幾何光學(xué)三定律，會(huì)應(yīng)用三定律解決應(yīng)用問(wèn)題。
2. 理解并掌握惠更斯原理與費(fèi)馬原理對(duì)三定律的解釋。
3. 了解單球折、反射面傍軸成像的基本概念和基本理論，掌握單球折、反射面傍軸三次成像問(wèn)題。
4. 理解薄透鏡傍軸成像的基本概念和規(guī)律，掌握薄透鏡傍軸三次成像。
5. 了解光學(xué)儀器的概念與基本原理。
（二）光的干涉
1. 理解并掌握光波與復(fù)振幅、波前的描述
2. 了解光波干涉的基本概念，掌握雙光束和多光束干涉的特點(diǎn)和規(guī)律。
3. 掌握分波面干涉、分振幅干涉（等厚干涉和等傾干涉）、典型干涉儀及其應(yīng)用。
4. 掌握光場(chǎng)的空間和時(shí)間相干性。
（三）光的衍射
1. 理解并掌握菲涅耳衍射和夫瑯禾費(fèi)衍射的基本概念和規(guī)律。
2. 掌握衍射光柵，閃耀光柵，光學(xué)儀器的色散本領(lǐng)、色分辨本領(lǐng)。
（四）光的偏振
1. 了解光的偏振態(tài)的基本概念；了解菲涅耳公式、相位突變。
2. 掌握雙折射，偏振態(tài)的變化和檢驗(yàn)，偏振光的干涉和旋光。
3. 掌握晶體的偏光干涉（馬呂斯定律、平行偏振光的干涉）
（五）光的吸收、色散、散射；群速
理解光的吸收、色散、散射現(xiàn)象的的基本概念并會(huì)解釋自然現(xiàn)象；了解相速度與群速度。
《821材料科學(xué)與工程基礎(chǔ)》
參考書(shū)目：[1] 《材料科學(xué)基礎(chǔ)》，王章忠，機(jī)械工業(yè)出版社，2005年。
一、 考試目的與要求
測(cè)試考生對(duì)材料科學(xué)與工程基本概念、基本理論的掌握程度以及應(yīng)用基本理論分析材料問(wèn)題的能力，要求考生系統(tǒng)地掌握材料科學(xué)與工程的基本概念、基礎(chǔ)理論，系統(tǒng)地理解材料的成分、組織結(jié)構(gòu)與性能內(nèi)在聯(lián)系，初步具備綜合運(yùn)用所學(xué)知識(shí)分析和解決工程中實(shí)際問(wèn)題的能力。
考生分析問(wèn)題要求文字語(yǔ)言通順，層次清楚；回答問(wèn)題要求要點(diǎn)明確，理由充分；畫(huà)圖要求清晰明了；計(jì)算題要有明確原理，準(zhǔn)確的結(jié)果，合理的計(jì)量單位。
二、 試卷結(jié)構(gòu)（滿分150分）
內(nèi)容比例：
材料結(jié)構(gòu)的基本理論 約40分
材料的組織結(jié)構(gòu)與性能控制技術(shù)基礎(chǔ) 約90分
工程材料及應(yīng)用 約20分
題型比例：
1．概念題 約40分
2．簡(jiǎn)答題 約40分
3．計(jì)算題 約20分
4．綜合分析題 約50分
注：概念題包括名詞與術(shù)語(yǔ)解釋、選擇題、填空題、判斷題等，題型不定。
三、考試內(nèi)容與要求
（一）材料結(jié)構(gòu)的基本理論
考試內(nèi)容
原子結(jié)構(gòu)與結(jié)合鍵，晶體結(jié)構(gòu)，晶體缺陷。
考試要求
1. 理解各種化學(xué)鍵和物理鍵及結(jié)合鍵的本質(zhì)，了解各結(jié)合鍵對(duì)性能的影響。
2. 理解晶體與非晶體、晶體結(jié)構(gòu)、空間點(diǎn)陣、晶格、晶胞、晶格常數(shù)、布拉菲點(diǎn)陣、晶面間距、間隙固溶體和置換固溶體等基本概念。
3. 熟練掌握晶向指數(shù)與晶面指數(shù)表示方法以及指數(shù)與圖形的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
4. 掌握常見(jiàn)的晶體結(jié)構(gòu)（BCC、FCC、HCP）及其幾何特征、配位數(shù)、致密度、間隙、密排面與密排方向。
5. 掌握金屬材料中相結(jié)構(gòu)的基本類型和各種相的形成規(guī)律、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)、性能特點(diǎn)以及它們?cè)诤辖鹬械淖饔谩?br /> 6. 掌握材料中各種晶體缺陷的分類方法、基本類型和基本性質(zhì)，了解晶體缺陷對(duì)材料物理、化學(xué)和力學(xué)性質(zhì)的影響。
7. 掌握點(diǎn)缺陷的熱力學(xué)特點(diǎn)，了解點(diǎn)缺陷對(duì)材料結(jié)構(gòu)和性能的影響。
8. 掌握位錯(cuò)類型的判斷方法、位錯(cuò)的特點(diǎn)、伯氏矢量的意義與性質(zhì)、位錯(cuò)易動(dòng)性的本質(zhì)、位錯(cuò)增殖機(jī)制。
9. 理解面缺陷中晶界、亞晶界、孿晶界、堆垛層錯(cuò)和相界等基本概念。
（二）材料的組織結(jié)構(gòu)與性能控制技術(shù)基礎(chǔ)
考試內(nèi)容
固體材料中的原子擴(kuò)散，相平衡與相圖原理，材料的凝固，材料的變形與回復(fù)再結(jié)晶，固態(tài)相變與材料處理。
考試要求
1. 理解擴(kuò)散定律的物理意義及各參數(shù)的含義，會(huì)應(yīng)用菲克第一定律、菲克第二定律解決較簡(jiǎn)單的擴(kuò)散問(wèn)題。
2. 掌握固體中擴(kuò)散的微觀機(jī)理和熱力學(xué)理論，能夠根據(jù)相應(yīng)的原子模型分析擴(kuò)散問(wèn)題。
3. 掌握影響擴(kuò)散的主要因素。
4. 熟悉相圖基本知識(shí)，了解相圖的熱力學(xué)基礎(chǔ)。
5. 熟悉各種二元相圖及其使用方法，能利用相圖分析平衡凝固過(guò)程和組織以及不平衡條件下可能的組織，了解成分-組織-性能之間的關(guān)系。
6. 深刻理解鐵-碳合金相圖中各點(diǎn)、線、面的意義，熟練掌握典型鐵碳合金的平衡結(jié)晶過(guò)程及組織；熟練掌握含碳量對(duì)鐵碳合金平衡組織和性能的影響；熟練應(yīng)用杠桿定律計(jì)算工程中實(shí)際問(wèn)題。
7 .熟悉凝固的基本規(guī)律。
8 .掌握金屬結(jié)晶的熱力學(xué)條件、結(jié)構(gòu)條件和能量條件。能運(yùn)用高等數(shù)學(xué)和物理化學(xué)的知識(shí)，推導(dǎo)出ΔGV、均勻形核時(shí)r*和ΔG*的公式，了解其物理意義。掌握非均勻形核的特點(diǎn)和本質(zhì)。熟悉影響形核率的主要因素。
9. 了解晶體長(zhǎng)大機(jī)制，熟悉界面微觀結(jié)構(gòu)和溫度梯度對(duì)晶體長(zhǎng)大形態(tài)的影響。
10. 掌握生產(chǎn)中細(xì)化鑄件晶粒的常用方法及其原理，了解凝固理論在單晶制備、定向凝固和制取非晶態(tài)金屬等方面的應(yīng)用。
11. 掌握冷變形金屬在加熱時(shí)的組織與性能變化規(guī)律，熟悉冷變形金屬在不同溫度的回復(fù)機(jī)制與應(yīng)用。
12. 熟悉主要的再結(jié)晶形核、長(zhǎng)大機(jī)制及其適用條件，，掌握影響再結(jié)晶的主要因素和控制再結(jié)晶晶粒大小的方法。
13. 熟悉再結(jié)晶后晶粒的正常長(zhǎng)大與異常長(zhǎng)大規(guī)律，能夠運(yùn)用相關(guān)理論控制最終晶粒大小。
14. 熟悉固態(tài)相變的特點(diǎn)與分類，掌握固態(tài)相變形核的能量條件，了解擴(kuò)散型相變形核速率、長(zhǎng)大速率及綜合動(dòng)力學(xué)曲線。
15. 熟悉過(guò)飽和固溶體的時(shí)效，了解調(diào)幅分解的概念與特點(diǎn)以及與脫溶沉淀的區(qū)別。
16. 熟練掌握鋼熱處理強(qiáng)化的基本原理，即鋼加熱和冷卻過(guò)程中的五大轉(zhuǎn)變（奧氏體形成、珠光體轉(zhuǎn)變、貝氏體轉(zhuǎn)變、馬氏體轉(zhuǎn)變和回火轉(zhuǎn)變）和兩條曲線（TTT曲線和CCT曲線）。
17. 熟練掌握鋼的普通熱處理工藝（退火、正火、淬火、回火）的工藝特點(diǎn)、適用鋼種和最終組織，掌握鋼的表面熱處理（表面淬火、化學(xué)熱處理）強(qiáng)化表面的原理以及感應(yīng)加熱表面淬火和滲碳、滲氮處理的目的、適用鋼種、工藝路線和最終組織。
（三）工程材料及應(yīng)用
考試內(nèi)容
金屬材料。
考試要求
1. 熟悉合金元素在鋼中的主要作用，尤其是合金元素對(duì)鋼的熱處理的影響。
2. 了解鋼的分類與牌號(hào)。
3. 熟悉各類合金結(jié)構(gòu)鋼、工具鋼、特殊鋼的成分，熱處理方法，熱處理后的組織，性能的特點(diǎn)以及主要用途。
4. 熟悉鑄鐵的石墨化原理，石墨的形態(tài)、大小對(duì)鑄鐵性能的影響。
5. 熟悉灰鑄鐵和球墨鑄鐵的成分、組織、性能特點(diǎn)，牌號(hào)及用途。了解可鍛鑄鐵、特殊性能鑄鐵。
《822半導(dǎo)體物理》
參考書(shū)目：
[1] 《半導(dǎo)體物理學(xué)》劉恩科 朱秉升 羅晉生 電子工業(yè)出版社2011 第七版
一、 考試目的與要求
考察考生對(duì)半導(dǎo)體物理的基本概念、基本原理和基本方法的掌握程度和利用基礎(chǔ)知識(shí)解決電子科學(xué)與技術(shù)相關(guān)問(wèn)題的能力。要求考生對(duì)半導(dǎo)體物理的基本概念有較深入的了解，能夠系統(tǒng)地掌握半導(dǎo)體物理中基本定律的推導(dǎo)、證明和應(yīng)用，并具有綜合運(yùn)用所學(xué)知識(shí)分析問(wèn)題和解決問(wèn)題的能力。
二、 試卷結(jié)構(gòu)（滿分150分）
題型比例：
1．名詞解釋 約40分
2．簡(jiǎn)答題 約40分
3．計(jì)算題 約40分
4．分析論述題 約30分
三、考試內(nèi)容與要求
（一）半導(dǎo)體的晶格結(jié)構(gòu)和電子狀態(tài)
考試內(nèi)容
半導(dǎo)體的晶格結(jié)構(gòu)和結(jié)合性質(zhì)，半導(dǎo)體中的電子狀態(tài)和能帶，半導(dǎo)體中的電子運(yùn)動(dòng)和有效質(zhì)量，本征半導(dǎo)體的導(dǎo)電機(jī)構(gòu)，空穴，硅和鍺及III－V族化合物半導(dǎo)體的能帶結(jié)構(gòu)。
考試要求
1．了解半導(dǎo)體的晶格結(jié)構(gòu)和結(jié)合性質(zhì)的基本概念。
2．理解半導(dǎo)體中的電子狀態(tài)和能帶的基本概念。
3．掌握半導(dǎo)體中的電子運(yùn)動(dòng)規(guī)律，理解有效質(zhì)量的意義。
4．理解本征半導(dǎo)體的導(dǎo)電機(jī)構(gòu)，理解空穴的概念。
5．理解硅和鍺的能帶結(jié)構(gòu)，掌握有效質(zhì)量的計(jì)算方法。
6．了解III－V族化合物半導(dǎo)體的能帶結(jié)構(gòu)。
（二）半導(dǎo)體中雜質(zhì)和缺陷能級(jí)
考試內(nèi)容
半導(dǎo)硅、鍺晶體中的雜質(zhì)能級(jí)。
考試要求
1．理解替位式雜質(zhì)、間隙式雜質(zhì)、施主雜質(zhì)、施主能級(jí)、受主雜質(zhì)、受主能級(jí)的概念。
2．簡(jiǎn)單計(jì)算淺能級(jí)雜質(zhì)電離能。
3．了解雜質(zhì)的補(bǔ)償作用、深能級(jí)雜質(zhì)的概念。
（三）半導(dǎo)體中載流子的統(tǒng)計(jì)分布
考試內(nèi)容
狀態(tài)密度，費(fèi)米能級(jí)和載流子的統(tǒng)計(jì)分布，本征半導(dǎo)體的載流子濃度，雜質(zhì)半導(dǎo)體的載流子濃度，一般情況下的載流子統(tǒng)計(jì)分布，簡(jiǎn)并半導(dǎo)體。
考試要求
1．理解并熟練掌握狀態(tài)密度的概念和表示方法。
2．理解并熟練掌握費(fèi)米能級(jí)和載流子的統(tǒng)計(jì)分布。
3．理解并熟練掌握本征半導(dǎo)體的載流子濃度的概念和表示方法。
4．理解并熟練掌握雜質(zhì)半導(dǎo)體的載流子濃度的概念和表示方法。
5．理解并掌握一般情況下的載流子統(tǒng)計(jì)分布。
6．理解并熟練掌握簡(jiǎn)并半導(dǎo)體的概念，簡(jiǎn)并半導(dǎo)體的載流子濃度的表示方法，簡(jiǎn)并化條件。了解禁帶變窄效應(yīng)。
（四）半導(dǎo)體的導(dǎo)電性
考試內(nèi)容
載流子的漂移運(yùn)動(dòng)，遷移率，載流子的散射，遷移率與雜質(zhì)濃度和溫度的關(guān)系，電阻率及其與雜質(zhì)濃度和溫度的關(guān)系，強(qiáng)電場(chǎng)下的效應(yīng)，熱載流子。
考試要求
1．理解遷移率的概念。并熟練掌握載流子的漂移運(yùn)動(dòng)。
2．理解載流子的散射的概念。
3．理解并熟練掌握遷移率與雜質(zhì)濃度和溫度的關(guān)系。
4．理解并熟練掌握電阻率及其與雜質(zhì)濃度和溫度的關(guān)系。
5．了解強(qiáng)電場(chǎng)下的效應(yīng)和熱載流子的概念。
（五）非平衡載流子
考試內(nèi)容
非平衡載流子的注入與復(fù)合，非平衡載流子的壽命，準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)，復(fù)合理論，陷阱效應(yīng)，載流子的擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)，載流子的漂移運(yùn)動(dòng)，愛(ài)因斯坦關(guān)系式，連續(xù)性方程式。
考試要求
1．理解非平衡載流子的注入與復(fù)合的概念。
2．理解非平衡載流子的壽命的概念。
3．理解準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)的概念。
4．了解復(fù)合理論，理解直接復(fù)合、間接復(fù)合、表面復(fù)合、俄歇復(fù)合的概念。
5．了解陷阱效應(yīng)。
6．理解并熟練掌握載流子的擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)。
7．理解并熟練掌握載流子的漂移運(yùn)動(dòng)，愛(ài)因斯坦關(guān)系式。并能靈活運(yùn)用。
8．理解并熟練掌握連續(xù)性方程式。并能靈活運(yùn)用。
（六）p-n結(jié)
考試內(nèi)容
p-n結(jié)及其能帶圖，p-n結(jié)電流電壓特性，p-n結(jié)電容，p-n結(jié)擊穿，p-n結(jié)隧道效應(yīng)。
考試要求
1．理解并掌握p-n結(jié)及其能帶圖。
2．理解并掌握p-n結(jié)電流電壓特性。
3．理解p-n結(jié)電容的概念、電容表達(dá)式。
4．理解雪崩擊穿、隧道擊穿、熱擊穿的概念。
5．了解p-n結(jié)隧道效應(yīng)。
（七）金屬和半導(dǎo)體的接觸
考試內(nèi)容
金屬半導(dǎo)體接觸及其能級(jí)圖，金屬半導(dǎo)體接觸整流理論，少數(shù)載流子的注入和歐姆接觸。
考試要求
1．了解金屬半導(dǎo)體接觸及其能帶圖。
2. 理解功函數(shù)、接觸電勢(shì)差的概念，包括公式、能帶示意圖。
3．了解表面態(tài)對(duì)接觸勢(shì)壘的影響。掌握金屬半導(dǎo)體接觸整流理論、肖特基勢(shì)壘二極管的概念。
4．了解少數(shù)載流子的注入和歐姆接觸的概念。
（八）半導(dǎo)體表面與MIS結(jié)構(gòu)
考試內(nèi)容
半導(dǎo)體表面態(tài)，表面電場(chǎng)效應(yīng)，MIS結(jié)構(gòu)的電容－電壓特性，硅─二氧化硅系數(shù)的性質(zhì)，表面電導(dǎo)及遷移率，表面電場(chǎng)對(duì)p－n結(jié)特性的影響。
考試要求
1．理解表面態(tài)的概念。
2．理解表面電場(chǎng)效應(yīng)，空間電荷層及表面勢(shì)的概念。理解并熟練掌握表面空間電荷層的電場(chǎng)、電勢(shì)和電容的關(guān)系。
3．理解并熟練掌握MIS結(jié)構(gòu)的電容－電壓特性，并能靈活運(yùn)用。
4．理解并熟練掌握硅─二氧化硅系數(shù)的性質(zhì)。
5．理解表面電導(dǎo)及遷移率的概念。
6．了解表面電場(chǎng)對(duì)p-n結(jié)特性的影響。
《823物理基礎(chǔ)（包括光學(xué)和電磁學(xué)）》
參考書(shū)目：[1] 《電磁學(xué)》趙凱華 陳熙謀 高等教育出版社2006 第二版
[2] 《光學(xué)》趙凱華、鐘錫華，北京大學(xué)出版社，2017 第二版
一、考試目的與要求
考察考生對(duì)電磁學(xué)的基本現(xiàn)象和基本定律的掌握程度以及利用基礎(chǔ)知識(shí)解決電子信息領(lǐng)域（集成電路或光學(xué)工程方向）相關(guān)問(wèn)題的能力。要求考生對(duì)電磁學(xué)的基本概念和基本定律有較深入的了解，能夠系統(tǒng)地掌握電磁學(xué)中基本定律的推導(dǎo)和應(yīng)用，并具有綜合運(yùn)用所學(xué)知識(shí)分析問(wèn)題和解決問(wèn)題的能力；掌握物理光學(xué)與應(yīng)用光學(xué)的基本概念、原理和公式，以及求解光學(xué)問(wèn)題的方法。能夠靈活運(yùn)用光學(xué)的概念、原理和方法分析和解決綜合性的光學(xué)問(wèn)題，并能夠設(shè)計(jì)和分析電子信息領(lǐng)域光學(xué)成像系統(tǒng)和光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)等工程應(yīng)用問(wèn)題。
二、試卷結(jié)構(gòu)（滿分150分）
（一）電磁學(xué)部分
內(nèi)容比例：
1．選擇題 約15分
2．計(jì)算題 約60分
（二）光學(xué)部分
1．應(yīng)用光學(xué) 約30%
2．光的干涉及其應(yīng)用 約30%
3．光的衍射及其應(yīng)用 約20%
4．光的偏振及其應(yīng)用 約20%
題型比例：
1．問(wèn)答題或證明題 約50%
2．設(shè)計(jì)或計(jì)算題 約50%
三、考試內(nèi)容與要求
（一）電磁學(xué)部分
1、靜電場(chǎng)的基本現(xiàn)象和基本規(guī)律
考試內(nèi)容
靜電的基本現(xiàn)象，庫(kù)侖定律，電場(chǎng)，電場(chǎng)強(qiáng)度，電通量，高斯定理，環(huán)路定理，靜電場(chǎng)做功，電勢(shì)及其梯度。
考試要求
1.1 了解靜電的基本現(xiàn)象。
1.2 理解靜電感應(yīng)、電荷守恒定律和庫(kù)倫定律等基本概念和定律。
1.3 掌握電場(chǎng)及電場(chǎng)強(qiáng)度的概念。
1.4 掌握應(yīng)用電場(chǎng)強(qiáng)度疊加定理計(jì)算帶電體產(chǎn)生的電場(chǎng)強(qiáng)度的方法并能靈活應(yīng)用。
1.5 理解電通量的概念，掌握高斯定理的表述和證明。
1.6 掌握應(yīng)用高斯定理求電場(chǎng)的條件和方法，并能靈活應(yīng)用。
1.7 掌握電場(chǎng)線的性質(zhì)。
1.8 理解靜電場(chǎng)環(huán)路定理和電勢(shì)的概念。
1.9 掌握電場(chǎng)和電勢(shì)之間的關(guān)系。
1.10 掌握電勢(shì)的計(jì)算方法。
2、靜電場(chǎng)中的導(dǎo)體
考試內(nèi)容
導(dǎo)體的靜電平衡條件，導(dǎo)體（導(dǎo)體殼）的電荷分布，孤立導(dǎo)體的電容，電容器及電容，電容器儲(chǔ)能。
考試要求
2.1 理解和掌握靜電場(chǎng)中導(dǎo)體的平衡條件。
2.2 簡(jiǎn)單計(jì)算導(dǎo)體和導(dǎo)體殼的電荷分布。
2.3 掌握電容器中電場(chǎng)、電勢(shì)以及電容的計(jì)算方法，并能靈活應(yīng)用。
2.4 理解電容器儲(chǔ)能的概念。
3、恒磁場(chǎng)
考試內(nèi)容
磁感應(yīng)強(qiáng)度，比奧-薩伐爾定律，載流回路的磁場(chǎng)，安培環(huán)路定理，磁場(chǎng)高斯定理，磁場(chǎng)對(duì)載流導(dǎo)線的作用，帶電粒子在磁場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)。
考試要求
3.1 了解磁的基本現(xiàn)象，理解磁感應(yīng)強(qiáng)度的概念。
3.2 掌握畢奧薩-伐爾定律和安培定律。
3.3 能夠運(yùn)用畢奧-薩伐爾定律計(jì)算不同載流回路的磁感應(yīng)強(qiáng)度。
3.4 掌握安培環(huán)路定理及采用安培環(huán)路定理計(jì)算載流導(dǎo)線產(chǎn)生磁場(chǎng)的條件和方法。
3.5 了解磁場(chǎng)高斯定理，并掌握磁場(chǎng)線的性質(zhì)。
3.6 掌握磁場(chǎng)對(duì)載流導(dǎo)線的作用。
3.7 掌握帶電粒子在磁場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)，理解安培力與洛倫茲力間的關(guān)系。
3.8 了解霍爾效應(yīng)的概念，掌握利用霍爾效應(yīng)判別導(dǎo)電類型的方法。
（二）光學(xué)部分
1、應(yīng)用光學(xué)
1.1 了解幾何光學(xué)基本定律，光路可逆和全反射現(xiàn)象，成像概念，理想像和理想光學(xué)系統(tǒng)；
1.2 掌握符號(hào)規(guī)則，近軸區(qū)成像性質(zhì)及相應(yīng)公式，主平面和焦點(diǎn)，作圖法求像，物像關(guān)系式，放大率，物像空間不變式，物像方焦距，節(jié)平面，理想像高，光學(xué)系統(tǒng)的組合，單透鏡公式；掌握單球折、反射面傍軸兩次及以上成像問(wèn)題；掌握薄透鏡傍軸兩次及以上成像；
1.3 掌握平面鏡的旋轉(zhuǎn)，棱鏡展開(kāi)，確定成像方向，球面和平面鏡棱鏡系統(tǒng)的組合；
1.4 掌握電子信息領(lǐng)域光學(xué)成像系統(tǒng)中光學(xué)儀器的概念與基本原理以及應(yīng)用。
2、光的干涉及其應(yīng)用
2.1 理解光的相干性及其干涉特點(diǎn)；
2.2 掌握分波面干涉理論及其應(yīng)用；
2.3 掌握分振幅雙光束干涉理論及其應(yīng)用；
2.4 掌握分振幅多光束干涉理論及其應(yīng)用；
2.5 掌握電子信息領(lǐng)域光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)中光學(xué)儀器中干涉條紋分析。
3、光的衍射及其應(yīng)用
3.1 理解并掌握菲涅耳衍射和夫瑯禾費(fèi)衍射的基本概念和規(guī)律；
3.2 理解并掌握近距離上的夫瑯和費(fèi)衍射；
3.3 理解并掌握典型孔徑的夫瑯和費(fèi)衍射；
3.4 理解并掌握光柵的夫瑯和費(fèi)衍射；
3.5 理解并掌握菲涅耳衍射原理和應(yīng)用；
3.6 掌握衍射光柵，閃耀光柵，光學(xué)儀器的色散本領(lǐng)、色分辨本領(lǐng)的原理和設(shè)計(jì)。
4、光的偏振及其應(yīng)用
4.1 了解光的偏振態(tài)的基本概念和偏振態(tài)的描述；了解菲涅耳公式、相位突變；
4.2 掌握雙折射，偏振態(tài)的變化和檢驗(yàn)，偏振光的干涉和旋光；
4.3 掌握晶體的偏光干涉（馬呂斯定律、平行偏振光的干涉）；
4.4 掌握偏振器件的原理與應(yīng)用以及偏振光的檢測(cè)和應(yīng)用。
原文鏈接：http://graduate.hrbust.edu.cn/info/1243/3764.htm
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